新生儿低血糖引起脑损伤的临床特征及危险因素分析

　　近日，海南省文昌市人民医院儿科研究人员发表论文，旨在观察新生儿低血糖脑损伤的临床特征及危险因素。研究指出，EEG异常、新生儿惊厥、低血糖持续时间大于24h、血糖水平小于或等于1.5mmol/L是独立危险因素，应早期干预。该文发表在2014年第19期《重庆医学》杂志上。

　　回顾性分析123例新生儿低血糖病例资料，根据MRI、脑电图检查（EEG）结果，将21例出现脑损伤的新生儿纳入观察组，102例无脑损伤的新生儿纳入对照组，比较两组新生儿围产期因素、临床表现及血糖检查的差异，多因素Logistic回归分析探讨新生儿低血糖脑损伤的危险因素。

　　21例新生儿低血糖脑损伤MRI检查均有顶枕部皮层受累，DWI表现为高信号，17例T1WI为低信号，T2WI为高信号；惊厥、肌肉张力减低、呼吸异常多见，EEG多有异常。单因素分析显示胎龄、出生体质量、妊娠期糖尿病、首次喂养时间、惊厥、血糖水平、低血糖持续时间、EEG检查与新生儿低血糖脑损伤有关（P<0.05）。多因素Logistic回归分析显示EEG异常、惊厥、低血糖持续时间大于24h，血糖水平小于或等于1.5mmol/L与新生儿低血糖脑损伤有关。