新生儿低血糖脑损伤临床与磁共振特征

　　近日，安徽省儿童医院新生儿科研究人员发表论文，旨在探讨新生儿低血糖脑损伤的临床、头颅磁共振（MRI）的特征。研究指出，新生儿血糖值越低，低血糖持续时间越久，脑损伤越重，低血糖脑损伤预后差，神经系统后遗症发生率高。该文发表在2014年第08期《安徽医学》杂志上。

　　选择新生儿低血糖脑损伤的病例42例（脑损伤组）及同期住院的新生儿低血糖无脑损伤的病例45例（无脑损伤组），对两组患儿的临床资料进行回顾性分析。

　　脑损伤组平均最低血糖值明显低于无脑损伤组（P<0.01），低血糖持续时间明显长于无脑损伤组（P<0.01），脑损伤组治疗24 h后血糖恢复正常者明显低于无脑损伤组（P<0.01）。脑损伤组头颅MRI早期表现为受损部位的弥散加权成像技术（DWI）高信号42例（100%），脑损伤的部位多分布在顶枕叶38例（90.5%）。脑损伤组30例患儿进行6～18个月随访，发生低血糖脑损伤神经系统后遗症20例（66.7%）；无脑损伤组无神经系统后遗症。