外显子组测序一个常染色体显性遗传非综合征型聋家系致病基因ACTG1

　　近日，解放军总医院耳鼻咽喉-头颈外科研究人员发表论文，旨在析一个遗传性非综合征型耳聋家系的临床听力学特征，应用全外显子组测序技术鉴定该家系的致聋基因。研究指出，该耳聋家系为常染色体显性遗传方式，已知耳聋基因ACTG1第4外显子c.364A>G（p.I122V）突变为该耳聋家系的致病原因。该文发表在2013年第03期《中华耳科学杂志》上。

　　通过家系调查，对一个感音神经性聋家系进行临床资料的收集、整理及临床听力学和遗传学特征分析，对家系成员进行调查并绘制系谱图。对2名患病的家系成员进行全外显子组测序确定候选基因，对所有家系成员进行候选基因突变的Sanger测序验证。

　　该耳聋家系遗传方式为常染色体显性遗传，患者表现为迟发性、渐进性、早期以高频下降为主的听力损失，全外显子组测序提示已知耳聋基因ACTG1第4外显子存在c.364A>G杂合突变，并引起编码蛋白p.I122V的改变，该位点在多物种之间保守，Sanger测序确认该位点突变与此家系耳聋表型共分离。ACTG1编码的γ-肌动蛋白I122位点的改变可能破坏肌动蛋白纤维的组装，从而影响内耳毛细胞的静纤毛结构和功能。